先端材料評価のための電子顕微鏡技法

日本電子顕微鏡学会関東支部 編

[目次]

  • 基礎技術編(構造解析法
  • 分析技法
  • 特殊観察法
  • 試料作製法
  • 画像記録・処理)
  • 応用編(セラミックス
  • 半導体
  • イオン結晶
  • 金属
  • 有機高分子
  • 無機材料)

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 先端材料評価のための電子顕微鏡技法
著作者等 日本電子顕微鏡学会
日本電子顕微鏡学会関東支部
書名ヨミ センタン ザイリョウ ヒョウカ ノ タメノ デンシ ケンビキョウ ギホウ
出版元 朝倉書店
刊行年月 1991.12
ページ数 382p
大きさ 27cm
ISBN 4254200536
NCID BN07014472
※クリックでCiNii Booksを表示
全国書誌番号
92017531
※クリックで国立国会図書館サーチを表示
言語 日本語
出版国 日本
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