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粉末X線解析の実際
中井泉, 泉富士夫 編
[目次]
- 粉末X線回折法の原理を理解しよう
- 粉末X線回折データを測定する
- 粉末X線回折データを読む
- 粉末X線回折データ解析の基礎
- X線回折応用技術
- これだけは知っておきたい結晶学
- リートベルト法
- 構造解析のための回折データを測定する
- RIETAN‐FPを使ってみよう
- MEMによる解析
- リートベルト解析に取り組む人へのアドバイス
- 粉末結晶構造解析
- 実例で学ぶ粉末X線解析
- 粉末X線解析に役立つ標準試料とデータベース
「BOOKデータベース」より
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書名 |
粉末X線解析の実際 |
著作者等 |
中井 泉
泉 富士夫
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書名ヨミ |
フンマツ Xセン カイセキ ノ ジッサイ |
出版元 |
朝倉書店 |
刊行年月 |
2009.7 |
版表示 |
第2版. |
ページ数 |
283p |
大きさ |
26cm |
ISBN |
978-4-254-14082-8
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NCID |
BA90726947
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全国書誌番号
|
21631804
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言語 |
日本語 |
出版国 |
日本 |
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