粉末X線解析の実際

中井泉, 泉富士夫 編

[目次]

  • 粉末X線回折法の原理を理解しよう
  • 粉末X線回折データを測定する
  • 粉末X線回折データを読む
  • 粉末X線回折データ解析の基礎
  • X線回折応用技術
  • これだけは知っておきたい結晶学
  • リートベルト法
  • 構造解析のための回折データを測定する
  • RIETAN‐FPを使ってみよう
  • MEMによる解析
  • リートベルト解析に取り組む人へのアドバイス
  • 粉末結晶構造解析
  • 実例で学ぶ粉末X線解析
  • 粉末X線解析に役立つ標準試料とデータベース

「BOOKデータベース」より

この本の情報

書名 粉末X線解析の実際
著作者等 中井 泉
泉 富士夫
書名ヨミ フンマツ Xセン カイセキ ノ ジッサイ
出版元 朝倉書店
刊行年月 2009.7
版表示 第2版.
ページ数 283p
大きさ 26cm
ISBN 978-4-254-14082-8
NCID BA90726947
※クリックでCiNii Booksを表示
全国書誌番号
21631804
※クリックで国立国会図書館サーチを表示
言語 日本語
出版国 日本
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